Les moyens de mesures propres :

  • Moyens d'essais CEM dimensionnés pour les normes civiles :

          - 10Vrms jusqu’à 80MHz en immunité conduite
          - 10V/m jusqu’à 6GHz en immunité rayonnée
          - Mesure en émission conduite jusqu’à 80MHz
          - Mesure en émission rayonnée jusqu'à 6GHz 

  • Scanner champ proche : Des essais d’investigation destinés à apporter une aide à la conception, à l'investigation et à l'optimisation de circuits électroniques en évaluant leur comportement CEM
  • Partenariat avec clients et laboratoires permettant de réaliser des essais dans d'autres secteurs :

           - Automobile
           -
Spatial
           -
Aéronautique/ Militaire

 

  • Nos Moyen

    Laboratoire d'essai

  • Nos Moyens

    Gyroscanfield 

  • Nos Moyens 3

    Scanner champ proche

News

Prochainement

  • /component/allevents/display/event/default/64-formation-cartes-electroniques-niveau1-fr-85?Itemid=204Formation sur les fondamentaux et règles de conception des cartes électroniques (niveau 1) - Toulouse (14-05-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/66-formation-avancee-au-logiciel-bat-emc-fr-39?Itemid=204Formation avancée au logiciel BAT-EMC - Grenoble (21-05-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/238-formation-a-la-creation-de-modeles-de-rapport-pour-bat-em?Itemid=204Formation à la création de modèles de rapport pour BAT-EMC - Grenoble (23-05-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/201-nexio-will-participate-in-the-2019-ieee-symposium-on-electro?Itemid=204NEXIO will participate in the 2019 IEEE + SIPI, NEW ORLEANS - LA (USA) (22-07-2019)
  • /component/allevents/display/event/default/234-formation-sur-la-cem-dans-le-domaine-civil-de-la-conceptio?Itemid=204Formation sur la CEM dans le domaine civil : de la conception au marquage CE - Toulouse (23-09-2019)