En s’appuyant sur les méthodes de mesures, d’analyses et de post-traitements innovants issus du projet EPEA (www.epea.fr). NEXIO industrialise l’utilisation de son scanner champ proche 3D et aide à la conception de circuits électroniques en évaluant leur comportement du point de vue CEM.

Grâce à un système robotique de haute précision, une automatisation optimisée et de nombreuses fonctions de post-traitement, NEXIO trace les champs produits par votre équipement, identifie précisément les sources et dispose d’un outil sans égal pour élaborer et vérifier des solutions à la réduction des émissions conduites et rayonnées.



 

CARACTERISTIQUES :

  • Identifier et quantifier les sources de perturbation (limiter les surprotections)
  • Décliner des contraintes

  • Evaluer les non régressions au niveau des spécifications cartes et sous ensembles

  • Caractériser les fuites d’un blindage

  • Optimiser le placement Composant-Carte ou Carte-Boîtier

  • Constituer des bases de données de composants ou cartes

  • Calculer la distribution du champ

  • Conforter, étayer, alimenter des travaux de modélisation et de simulation numérique

News

Prochainement

  • /component/allevents/display/event/default/211-formation-initiation-aux-antennes-paris-36?Itemid=313Formation : Initiation aux Antennes - Paris (19-06-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/244-formation-pour-comprendre-les-essais-cem-toulouse?Itemid=313Formation pour comprendre les essais CEM - Toulouse (19-06-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/198-formation-initiation-aux-antennes-toulouse?Itemid=313Formation sur les fondamentaux et règles de protections ESD / Foudre pour les équipements - Toulouse (26-06-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/82-formation-pour-comprendre-les-essais-cem-a?Itemid=313Formation pour comprendre les essais CEM - Grenoble (04-09-2018)
  • /component/allevents/display/event/default/236-alias-date-calendrier?Itemid=313Formation utilisateur au logiciel BAT-EMC - Paris (04-09-2018)