NEXIO a le plaisir d’annoncer sa participation aux Journées d’études sur la Compatibilité Radioélectrique (CRE) qui se déroulent à l’INSA de Rennes, dans l’Amphi M’Hamed Drissi. Cet événement rassemble des experts et des professionnels du secteur, offrant une plateforme idéale pour échanger des idées et des innovations sur des sujets cruciaux liés à la compatibilité électromagnétique.

Lors de cette occasion, nous sommes ravis de vous présenter notre dernière innovation technologique : le BAT SCANNER. Cet outil de pointe est spécialement conçu pour assister les ingénieurs dans la conception de circuits électroniques. Grâce à ses fonctionnalités avancées, le #BAT_SCANNER évalue avec précision le comportement des circuits, permettant ainsi d’identifier rapidement les problèmes d’émission.

Nous sommes impatients de partager nos recherches et d’échanger avec d’autres professionnels sur les défis et les solutions en matière de compatibilité radioélectrique. Votre présence à cet événement est une occasion idéale pour découvrir comment le BAT SCANNER peut transformer vos processus de conception électronique.