Découvrez la rapidité et l’efficacité du scanner champs proche au travers de 9 cas d’usages…

Notre scanner champs proche #BAT_SCANNER permet la localisation des sources d’émissions pour évaluer le comportement #CEM des circuits électroniques tout au long du cycle de développement :

☑️ En phase de #design :
– Localiser et réduire les sources de #perturbations
– Optimiser placement et #routage
– Aider aux choix technologiques
– Investiguer les défauts #EMI

☑️ En phase de #production :
– Caractériser les fuites
– Contrôler la fabrication
– Evaluer les sous-traitants et #secondes_sources
…

☑️ En phase de #vie_série :
– Vérifier les non-régressions
– Gérer les obsolescences
– Capitaliser sur les retours d’expérience

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